Alfred Binet

Alfred Binet
Psicólogo, padre de los tests de inteligencia
Información personal
Nombre de nacimiento	Alfredo Binetti
Nacimiento	8 de julio de 1857 Niza, Francia
Fallecimiento	18 de octubre de 1911 (54 años) París, Francia
Residencia	Francia
Nacionalidad	Francés
Educación
Educado en	Facultad de Medicina de París Facultad de Derecho de París (hasta 1878)
Supervisor doctoral	Jean-Martin Charcot
Información profesional
Área	Hipnosis, psicología experimental, psicología cognitiva, psicología educacional, psicología diferencial grafología y psicometría.
Conocido por	escala Binet-Simon y aportes en el campo de la inteligencia y el desarrollo cognitivo
Empleador	Hospital de la Pitié-Salpêtrière de París, Laboratorio Experimental de Psicología de La Sorbona.
Estudiantes doctorales	Théodore Simon
Miembro de	Société Libre pour l'Etude Psychologique de l'Enfant.
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Alfred Binet, nacido Alfredo Binetti (Niza, 8 de julio de 1857-París, 18 de octubre de 1911) fue un pedagogo, grafólogo y psicólogo francés. Se le conoce por su esencial contribución a la psicometría y a la psicología diferencial como diseñador del test de predicción del rendimiento escolar, en colaboración con Théodore Simon, que fue base para el desarrollo de los sucesivos test de inteligencia.

El test tenía como finalidad práctica y única la de identificar a escolares que requerían una atención especial. Tenía la esperanza de que su test se utilizaría para mejorar la educación de los niños, aunque temía que se empleara para etiquetarlos y en consecuencia se limitaran sus oportunidades. Binet jamás hubiera aceptado que el test que diseñó como una guía práctica para identificar a niños con aprendizaje lento que necesitaban ayuda especial pronto fuera utilizado como una medición numérica de la inteligencia heredada.^[1]​

1. ↑ Myers, Psicología, 7.ª Edición: p. 420